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XRD平板探测器在使用时会遇到哪些问题

更新时间:2023-12-12点击次数:1221
  XRD(X射线衍射)是一种常用的材料表征技术,用于分析材料的晶体结构和晶体质量。然而在使用过程中,可能会出现一些故障。样品制备就是其中一个关键的步骤,对此有以下一些要求:
  1. 对于金属样品如块状、板状、圆拄状,需要磨成一个平面,面积不小于10X10毫米。如果面积太小可以用几块粘贴一起。此外,制样时需要注意样品的面积、表面洁净度与表面平整程度。
  2. 在研磨过程中,需要不断过筛,分出已经细化的颗粒。对于软而不便于研磨的物质,可以采用液氮或干冰使其变脆,以便于研磨。
  3. 有些样品需要用整形锉刀制得金属细屑,此时需要对制得的挫屑进行退火处理消除锉刀带来的点阵应力。
  在XRD实验中,使用Jade软件进行数据分析是一种常见的做法。然而,XRD主要适用于无机物,对于有机物的应用较少。此外,XRD研究的应该是晶粒、晶体的问题,与晶体结构关联的问题,而不是样品颗粒的大小问题。样品颗粒的大小要用别的方法测定,例如光散射、X射线散射、电镜等。
  在日常维护保养中,除了对故障进行处理外,还需要定期进行设备的检查和维护,以确保设备的正常运行。同时,也需要注意设备的使用环境,避免在过于潮湿或者温度过高的环境中使用设备,以防设备受损。最后,当设备出现故障时,应立即停止使用,并联系专业的维修人员进行检查和维修,以免对设备造成进一步的损害。
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