工业计算机断层扫描(Industrial Computed Tomography,简称工业CT)是一种利用X射线对物体内部结构进行无损三维成像的检测技术。它能够在不破坏样品的前提下,清晰呈现内部缺陷、装配关系及几何尺寸,广泛应用于制造与质量控制领域。
一、主要用途
1.用于铸件、焊缝、复合材料等零部件的内部缺陷检测,如气孔、裂纹、夹杂、疏松等,尤其适用于结构复杂或高价值部件。
2.在电子电器行业,可对BGA封装、PCB板、电池内部结构进行失效分析,识别虚焊、短路、隔膜褶皱等问题。
3.支持逆向工程与尺寸测量,通过三维重建模型,精确获取复杂曲面、内腔或隐蔽结构的几何参数,满足GD&T(几何尺寸与公差)分析需求。
4.应用于航空航天、汽车、轨道交通等领域,对涡轮叶片、燃油喷嘴、轻量化结构件等关键零部件进行全生命周期质量验证。
5.在科研与新材料开发中,用于观察多孔介质、泡沫金属、增材制造(3D打印)零件的内部形貌与孔隙分布。

二、工作原理
1.被测工件放置于旋转平台上,X射线源发射锥形或扇形射线穿透物体,不同密度和厚度区域对射线的吸收程度不同。
2.对侧的平板探测器接收透射后的射线强度,形成二维投影图像(称为“投影图”)。
3.工件在360°范围内以微小角度步进旋转,采集数百至数千张投影图像。
4.计算机通过专用重建算法(如滤波反投影FBP或迭代重建),将这些二维投影数据合成为三维体素模型。
5.利用可视化软件,可对三维模型进行任意剖切、渲染、缺陷标注、壁厚分析及尺寸测量,实现全面内部结构解析。
三、使用注意事项
1.安全防护优先:X射线具有辐射性,设备必须安装在屏蔽良好的专用房间内,操作人员需佩戴剂量计,并严格遵守辐射安全规程,禁止在设备运行时打开防护门。
2.样品适配性评估:根据工件材质、尺寸和密度选择合适的X射线能量与探测器类型;高密度或大尺寸样品可能需更高能射线源,且会降低图像分辨率。
3.放置与固定:样品应稳固安装在转台上,避免扫描过程中晃动;重心偏移过大会影响旋转平稳性,导致图像伪影。
4.参数优化:合理设置电压、电流、曝光时间、旋转步数等参数,在图像质量与扫描效率之间取得平衡;过度曝光可能损坏探测器,曝光不足则信噪比低。
5.环境要求:设备应置于温度、湿度稳定的室内,远离强振动源和电磁干扰,确保机械精度与电子系统稳定。
6.定期校准维护:按厂家建议周期对X射线源、探测器及旋转平台进行校准;清洁光学窗口和导轨,检查冷却系统是否正常。
7.数据管理:三维数据文件体积庞大,需配置足够存储空间,并建立规范的数据备份与归档机制。
工业CT作为先进的无损检测手段,正逐步从实验室走向生产线。科学使用并规范操作,方能充分发挥其在质量保障与技术创新中的核心价值。